高精度聚斑分析仪：LUM-F
特性:
1.从紫外到红外的一体化模块化解决方案
2.Lumosity 软件中的用户自定义参数窗口
3.可按波长和放大倍率更换的物镜单元
4.仅需焦点对齐
技术参数:
| 规格 | LUM-F-DUV | LUM-F-VIS | LUM-F-NIR | LUM-F-NIR |
| 波长 [nm] | 240 - 355 | 343 - 355 | 485 - 570 | 980 - 1064 |
| 分辨率 [像素] | 2848 X 2848 [8.1 MP] | 2856 X 2848 [8.1 MP] | ||
| 像素尺寸 [µm] | 2.74 X 2.74 | |||
| 传感器尺寸［mm］ | 7.8 X 7.8 | |||
| 放大 | X20 | X10 | X05 | |
| 最小可测光斑尺寸 | Ø 3 µm | Ø 6 µm | Ø 14 µm | |
| 电气数据 | 10-28 V / 千兆以太网，PoE | |||
韩国LUMOS公司介绍:
韩国LUMOS公司完整继承了Metrolux的精度基因与可靠性，并针对大规模生产环境进行了系统性优化。从激光加工过程中的实时监测到功率计与光束质量分析仪的协同配置，韩国LUMOS公司将专业级测量能力融入每一台设备。同时韩国LUMOS公司的产品是世界范围内针对量产优化的最佳选择。
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