三维光束轮廓分析仪:LUM-Z
特性:
1.可测量的光斑尺寸与景深
2.3D强度分布
3.2D与3D光束轮廓查看器

技术参数:
| 规格 | |
| LUM-Z行程 | 10mm |
| 最小扫描步长 | 10 µm |
| 最大扫描时间 | <200sec/1mm |
| 最小光束尺寸 | >3 µm |
| 波长 | 343~1064nm (Selection) |
| 功率 | <1W |
韩国LUMOS公司介绍:
韩国LUMOS公司完整继承了Metrolux的精度基因与可靠性,并针对大规模生产环境进行了系统性优化。从激光加工过程中的实时监测到功率计与光束质量分析仪的协同配置,韩国LUMOS公司将专业级测量能力融入每一台设备。同时韩国LUMOS公司的产品是世界范围内针对量产优化的最佳选择。
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