光斑分析仪 LAM
光斑分析仪LAM
LAM 规格参数：
传感器类型 | 硅基，使用刀口法测量技术 |
光谱范围 | 硅: 350 - 1100 nm |
刀片数 | 7个刀片，并使用图像层析重建技术 |
光斑尺寸范围 | 50 μm至8 mm |
光斑宽度分辨率 | 光斑尺寸大于100 μm时分辨率为1 μm 光斑尺寸小于100 μm时分辨率为0.1 μm |
光斑宽度测量精度 | ±2% |
功率范围 | 最高4 kW (需要衰减片和高压空气风冷，可能会有一些限制) |
功率测量精度 | ±5% |
位置测量精度 | ± 15 μm |
位置分辨率 | 1 μm |
测量频率 | 5 Hz |
重量 | 传感器和电缆共约 1500 g |
接口 | USB 3.0, windows 7/8/10 (32 & 64 位) |
最低硬件要求 | CPU i3 1.6 GHz, 4 GB 内存, Windows 7/8/10 |
可选配件 | ND 光学衰减片 |
LAM 特点：
- 可安装到工作台上进行光斑测量；
- 内置风冷采样器；
- 业内领先的刀口系统；
- 特有的图像层析重建算法；
- 可测50微米到8毫米范围的光斑；
- 精确测量光斑轮廓、功率和位置；
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