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光斑分析仪 LAM

光斑分析仪LAM


LAM 规格参数:

传感器类型

硅基,使用刀口法测量技术

光谱范围

: 350 - 1100 nm

刀片数

7个刀片,并使用图像层析重建技术

光斑尺寸范围

50 μm8 mm

光斑宽度分辨率

光斑尺寸大于100 μm时分辨率为1 μm

光斑尺寸小于100 μm时分辨率为0.1 μm

光斑宽度测量精度

±2%

功率范围

最高4 kW (需要衰减片和高压空气风冷,可能会有一些限制)

功率测量精度

±5%

位置测量精度

± 15 μm

位置分辨率

1 μm

测量频率

5 Hz

重量

传感器和电缆共约 1500 g

接口

USB 3.0, windows 7/8/10 (32 & 64 )

最低硬件要求

CPU i3 1.6 GHz, 4 GB 内存, Windows 7/8/10

可选配件

ND 光学衰减片

LAM 特点:

- 可安装到工作台上进行光斑测量;

- 内置风冷采样器;

- 业内领先的刀口系统;

- 特有的图像层析重建算法;

- 可测50微米到8毫米范围的光斑;

- 精确测量光斑轮廓、功率和位置;


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LAM

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