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光束质量分析仪BeamWave

全一体化的激光光束分析仪器,单一设备实现光束形貌参数、光束传播参数、M2因子等全部激光束参数的分析测量。

典型特点

● 单一设备测量所有的光束参数
● 同时高分辨率波前和强度测量
● 瞬时单点M2测量
● M2测量无需移动部件
● 可以测量连续和脉冲光束,脉冲测量自动触发
● 结构及其简单,且免维护
● 低价格

国PhaseView公司光束质量分析仪BeamWave原理:



BeamWave工作原理图


单次测量M2因子原理示意图

 

原理:在CCD内部,激光光束被分成两束并分别先后到达高灵敏度波前CCD探测器阵面,并先后得到两个光束图像,通过分析比较这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析测量出该光束的所有参数:

● 光束形貌参数:三维能量分布,光斑位置,发散角,腰斑大小,
● 光束传播参数:波前能量分布,波前相位分布,波前曲率半径,腰斑大小和位置,瑞利长度等等
● M2因子

和传统的Shack-Hartmann波前分析仪测量波前的比较:

传统光束质量分析仪由Shack-Hartmann波前探测器取样测量波前能量,测量分辨率低,测量M2需要复杂的导轨,测量速度慢等等.相较于传统的Shack-Hartmann波前探测器,BeamWave具有高速、高分辨率、无需导轨、测量更全面等优势。

BeamWave技术指标:

型号BeamWave10 BeamWave500  BeamWave1000  BeamWave1500
最大输入光束直径(1/e 2),mm23.24.86.4
(双CCD)
光束强度测量模式连续或脉冲,XYZ三轴测量
波长范围 350~1100nm
有效CCD口径2mm3.2mm4.8mm6.4mm
CCD像元大小5.2x52μm6.4x6.4μm
M2测量功能CW或PulseCW
M2范围--1~501~501-50
M2模式--连续 或脉冲连续
M2精度--+/-5%+/-5%+/-5%
M2重复性--2%2%
波前测量功能
波前测量点数350 x350500×5001392×10401392 X1040
波前灵敏度(λ),rmsλ/500.0050.0053nm, >λ/200
波前精度(λ),rmsλ/150.010.016nm, >λ/100
波前动态范围(λ)1200150015001800
测量时间实时
重量,kg0.0350.352.51.15
尺寸,mm44x44x25.441×55×8087×161×84114x72x172
光学接口C-Mount
计算机接口USB2.0
标配软件Alignment ToolGetLaseFullEditionGetLase FullEditionGetLase FullEdition
GetWaveGetWave
供电USB供电,无需电源

可选项:

      ♦3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter
       
      ♦光束缩束和扩束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X
       
      ♦Software Development Kit软件,GetWave软件
       
      ♦波长从紫外到红外的特定探测器(其他波长)
法国PhaseView公司

      法国PhaseView公司总部位于巴黎西南部15公里处的法国光谷——Palaiseau(帕莱索)。
PhaseWave公司专注于激光光束形貌和波前的测量、眼科、精密光学仪器及科研市场,依托其拥有核心竞争力的数字波前相差分析创新技术、强大的图像处理技术、优秀的光学和机械设计技术,开发出BeamWave系列的堪称革命性的光束质量分析仪产品。


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